超聲波法測(cè)量物位的特點(diǎn)
超聲波物位計(jì)有兩種類型:分體式--超聲波的發(fā)射和接收為兩個(gè)器件;一體式--超聲波的發(fā)射和接收為同一個(gè)器件,如圖3-9所示。
①檢測(cè)元件(探頭)可以不與被測(cè)介質(zhì)接觸,即可做到非接觸測(cè)量。
②可測(cè)范圍較廣,只要界面的聲阻抗不同,液體、粉末、塊體的物位都可以測(cè)量。
③可測(cè)量低溫介質(zhì)的物位,測(cè)量時(shí)可將發(fā)射器和接收器安裝在低溫槽的底部。
④由于此法構(gòu)成的儀表沒有可動(dòng)部件,而且探頭的壓電晶片振奮很小,所以儀表使用壽命長(zhǎng)。
⑤缺點(diǎn)是探頭本身不能承受高溫,聲速受介質(zhì)的溫度、壓力影響,有些介質(zhì)對(duì)聲波的吸收能力很強(qiáng),此法受到一定的限制。另外,電路復(fù)雜,造價(jià)較高。